影響測量儀的發(fā)展趨勢

全自動影響測量儀是在數(shù)字化影像測量儀基礎(chǔ)上發(fā)展起來的人工智能型現(xiàn)代光學(xué)費(fèi)接觸測量儀器，其承續(xù)了數(shù)字化儀器優(yōu)異的運(yùn)動精度與運(yùn)動操控性能，融合機(jī)器視覺軟件的設(shè)計靈性，屬于當(dāng)今前沿的光學(xué)尺寸檢測設(shè)備。我司生產(chǎn)的全自動影響測量儀能夠便捷而快速的進(jìn)行坐標(biāo)測量與SPC結(jié)果分類，滿足現(xiàn)代制造業(yè)對尺寸檢測日益突出的要求：更高速，更便捷，更的測量需要，解決制造業(yè)發(fā)展中的又一個瓶頸技術(shù)。

全自動影響測量基于機(jī)器視覺的自動邊緣提取，自動取匹，自動對焦，測量合成，影響合成等人工智能技術(shù)，具有：點哪走哪自動測量，自動學(xué)習(xí)批量測量，影響地圖目標(biāo)指引優(yōu)異功能。同時，基于機(jī)器視覺與微米控制下的自動對焦過程，可以滿足清晰造影下輔助測高需要（亦可加入觸電側(cè)頭完成坐標(biāo)測高），支持空間坐標(biāo)旋轉(zhuǎn)的優(yōu)異軟件性能，可在工件隨意放置的情況下進(jìn)行批量測量，亦可使用夾具進(jìn)行大批量掃描測量與SPC結(jié)果分類。

全自動影響測量儀是影像測量技術(shù)的階段，具有高度智能化與自動化特點。其優(yōu)異的軟硬件性能讓坐標(biāo)尺寸變得便捷而愜意，擁有基于機(jī)器視覺與過程控制的自動學(xué)習(xí)功能，依托數(shù)字化儀器高速而的微米級走位，可將測量過程的路徑，對焦，選點功能切換，人工修正，燈光匹配等操作過程自學(xué)并記憶。

全自動影響測量儀可以輕松學(xué)會操作員的所有實操過程，結(jié)合其自動對焦和區(qū)域搜尋功能，目標(biāo)鎖定，邊緣提取，理匹選點的模糊運(yùn)算實現(xiàn)人工智能，可自動修正由工件差異和走位差別導(dǎo)致的便宜實現(xiàn)選點，具有高精度的重復(fù)性，從而使操作人員從疲勞目視對位，頻繁選點，重復(fù)走位，功能切換等單調(diào)操作和日益繁重的待測任務(wù)中解脫出來，成倍的提高工件批測效率，滿足工業(yè)抽檢與大批量檢測需要。